- изображение в отраженных электронах
-
изображение в отраженных электронах
Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием отраженных от объекта электронов.
[ГОСТ 21006-75]
Тематики
- микроскопы
Обобщающие термины
- изображения объекта в растровом электронном микроскопе
EN
- backscackscattered Electron mode
DE
- Abbildung mit Rückstreuelektronen
Справочник технического переводчика. – Интент. 2009-2013.
Смотреть что такое "изображение в отраженных электронах" в других словарях:
Изображение в отраженных электронах — 34. Изображение в отраженных электронах D. Abbildung mit Rückstreuelektronen E. Backscackscattered Electron mode Изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием отраженных от объекта электронов Источник: ГОСТ 21006 … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
изображение — 3.2 изображение: Текст (рукопись или машинопись) или рисунок (черно белый, полутоновый или штриховой), размещенные на листе формата А4 по ГОСТ 2.301. Источник: ГОСТ Р 51826 2001: Системы и аппаратура факсимильной связи. Параметры … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения — Терминология ГОСТ 21006 75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа: 12. V образный катод Нрк. Шпилькообразный катод Катод, изготовленный из проволоки, согнутой под острым углом, вершина которого… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
Растровый электронный микроскоп — … Википедия
РЭМ — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать … Википедия
Растровый электронный микроскоп (РЭМ) — Изображение пыльцы Растровый электронный микроскоп (РЭМ, англ. Scanning Electron Microscope, SEM) прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Ряд дополнительных методов позволяет получать … Википедия
- Обратная связь: Техподдержка, Реклама на сайте
